梅特勒XPE微量分析天平新款上市

    XPE微量分析天平是一款可讀性為 1ug的**密電子天平，將*大秤量與*小秤量有機的結合在一起。 可直接在較大的去皮容器中加樣，從而有效的節省貴重的原材料并大幅降低實驗成本。

    梅特勒XPE微量分析天平新款上市，*大測量量程為52g,儀器內置有三種不同StatusLight 狀態指示燈，通過觀測不同顏色可方便的幫助您快速確認天平狀態：綠色表示準備就緒，黃色表示警告，超出稱量范圍等錯誤用紅色表示。
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梅特勒XPE微量分析天平新款上市

梅特勒XPE微量分析天平技術參數

型號	XPE26	XPE26DR	XPE56
*大稱量值	22g	5.1g/22g	52g
可讀性	0.001mg	0.002mg/0.01mg	0.001mg
重復性(sd)(加載處)	0.0025mg(20g)	0.008mg(20g)	0.005mg(50g)
重復性(sd)(5%加載)	0.0015mg	0.002mg	0.0015mg
線性誤差	0.006mg	0.01mg	0.02mg
靈敏度漂移(校驗砝碼)	0.08mg(20g)	0.1mg(20g)	0.125mg(50g)
靈敏度溫度漂移1	0.0001%/℃	0.0001%/℃	0.0001%/℃
靈敏度穩定性2	0.0001%/a	0.0001%/a	0.0001%/a
典型值
重復性(sd)(5%加載)	0.0007mg	0.0012mg	0.0007mg
線性誤差	0.002mg	0.005mg	0.006mg
靈敏度漂移(校驗砝碼)	0.02mg(20g)	0.03mg(20g)	0.03mg(50g)
*小稱量值(5%加載，k=2，U=0.10%)	1.4mg	2.4mg	1.4mg
*小稱量值(5%加載，k=2，U=1%)	0.14mg	0.24mg	0.14mg
穩定時間	3.5s	3.5s/2.5s	3.5s

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